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當(dāng)前位置: 首頁(yè) SCI期刊 SCIE期刊 工程技術(shù) 中科院4區(qū) JCRQ4 期刊介紹(非官網(wǎng))
Iet Circuits Devices & Systems

Iet Circuits Devices & SystemsSCIE

國(guó)際簡(jiǎn)稱:IET CIRC DEVICE SYST  參考譯名:集成電路設(shè)備和系統(tǒng)

  • 中科院分區(qū)

    4區(qū)

  • CiteScore分區(qū)

    Q2

  • JCR分區(qū)

    Q4

基本信息:
ISSN:1751-858X
E-ISSN:1751-8598
是否OA:開放
是否預(yù)警:否
TOP期刊:否
出版信息:
出版地區(qū):ENGLAND
出版商:Wiley
出版語言:English
出版周期:Bi-monthly
出版年份:2007
研究方向:工程技術(shù)-工程:電子與電氣
評(píng)價(jià)信息:
影響因子:1
H-index:45
CiteScore指數(shù):3.8
SJR指數(shù):0.289
SNIP指數(shù):0.595
發(fā)文數(shù)據(jù):
Gold OA文章占比:69.13%
研究類文章占比:96.15%
年發(fā)文量:26
自引率:0.0769...
開源占比:0.2776
出版撤稿占比:0
出版國(guó)人文章占比:0.12
OA被引用占比:0.0109...
英文簡(jiǎn)介 期刊介紹 CiteScore數(shù)據(jù) 中科院SCI分區(qū) JCR分區(qū) 發(fā)文數(shù)據(jù) 常見問題

英文簡(jiǎn)介Iet Circuits Devices & Systems期刊介紹

IET Circuits, Devices & Systems covers the following topics:

Circuit theory and design, circuit analysis and simulation, computer aided design

Filters (analogue and switched capacitor)

Circuit implementations, cells and architectures for integration including VLSI

Testability, fault tolerant design, minimisation of circuits and CAD for VLSI

Novel or improved electronic devices for both traditional and emerging technologies including nanoelectronics and MEMs

Device and process characterisation, device parameter extraction schemes

Mathematics of circuits and systems theory

Test and measurement techniques involving electronic circuits, circuits for industrial applications, sensors and transducers

期刊簡(jiǎn)介Iet Circuits Devices & Systems期刊介紹

《Iet Circuits Devices & Systems》自2007出版以來,是一本工程技術(shù)優(yōu)秀雜志。致力于發(fā)表原創(chuàng)科學(xué)研究結(jié)果,并為工程技術(shù)各個(gè)領(lǐng)域的原創(chuàng)研究提供一個(gè)展示平臺(tái),以促進(jìn)工程技術(shù)領(lǐng)域的的進(jìn)步。該刊鼓勵(lì)先進(jìn)的、清晰的闡述,從廣泛的視角提供當(dāng)前感興趣的研究主題的新見解,或?qū)彶槎嗄陙砟硞€(gè)重要領(lǐng)域的所有重要發(fā)展。該期刊特色在于及時(shí)報(bào)道工程技術(shù)領(lǐng)域的最新進(jìn)展和新發(fā)現(xiàn)新突破等。該刊近一年未被列入預(yù)警期刊名單,目前已被權(quán)威數(shù)據(jù)庫(kù)SCIE收錄,得到了廣泛的認(rèn)可。

該期刊投稿重要關(guān)注點(diǎn):

Cite Score數(shù)據(jù)(2024年最新版)Iet Circuits Devices & Systems Cite Score數(shù)據(jù)

  • CiteScore:3.8
  • SJR:0.289
  • SNIP:0.595
學(xué)科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Control and Systems Engineering Q2 137 / 321

57%

大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q2 350 / 797

56%

CiteScore 是由Elsevier(愛思唯爾)推出的另一種評(píng)價(jià)期刊影響力的文獻(xiàn)計(jì)量指標(biāo)。反映出一家期刊近期發(fā)表論文的年篇均引用次數(shù)。CiteScore以Scopus數(shù)據(jù)庫(kù)中收集的引文為基礎(chǔ),針對(duì)的是前四年發(fā)表的論文的引文。CiteScore的意義在于,它可以為學(xué)術(shù)界提供一種新的、更全面、更客觀地評(píng)價(jià)期刊影響力的方法,而不僅僅是通過影響因子(IF)這一單一指標(biāo)來評(píng)價(jià)。

歷年Cite Score趨勢(shì)圖

中科院SCI分區(qū)Iet Circuits Devices & Systems 中科院分區(qū)

中科院 2023年12月升級(jí)版 綜述期刊:否 Top期刊:否
大類學(xué)科 分區(qū) 小類學(xué)科 分區(qū)
工程技術(shù) 4區(qū) ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 4區(qū)

中科院分區(qū)表 是以客觀數(shù)據(jù)為基礎(chǔ),運(yùn)用科學(xué)計(jì)量學(xué)方法對(duì)國(guó)際、國(guó)內(nèi)學(xué)術(shù)期刊依據(jù)影響力進(jìn)行等級(jí)劃分的期刊評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)。它為我國(guó)科研、教育機(jī)構(gòu)的管理人員、科研工作者提供了一份評(píng)價(jià)國(guó)際學(xué)術(shù)期刊影響力的參考數(shù)據(jù),得到了全國(guó)各地高校、科研機(jī)構(gòu)的廣泛認(rèn)可。

中科院分區(qū)表 將所有期刊按照一定指標(biāo)劃分為1區(qū)、2區(qū)、3區(qū)、4區(qū)四個(gè)層次,類似于“優(yōu)、良、及格”等。最開始,這個(gè)分區(qū)只是為了方便圖書管理及圖書情報(bào)領(lǐng)域的研究和期刊評(píng)估。之后中科院分區(qū)逐步發(fā)展成為了一種評(píng)價(jià)學(xué)術(shù)期刊質(zhì)量的重要工具。

歷年中科院分區(qū)趨勢(shì)圖

JCR分區(qū)Iet Circuits Devices & Systems JCR分區(qū)

2023-2024 年最新版
按JIF指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 285 / 352

19.2%

按JCI指標(biāo)學(xué)科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學(xué)科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q4 287 / 354

19.07%

JCR分區(qū)的優(yōu)勢(shì)在于它可以幫助讀者對(duì)學(xué)術(shù)文獻(xiàn)質(zhì)量進(jìn)行評(píng)估。不同學(xué)科的文章引用量可能存在較大的差異,此時(shí)單獨(dú)依靠影響因子(IF)評(píng)價(jià)期刊的質(zhì)量可能是存在一定問題的。因此,JCR將期刊按照學(xué)科門類和影響因子分為不同的分區(qū),這樣讀者可以根據(jù)自己的研究領(lǐng)域和需求選擇合適的期刊。

歷年影響因子趨勢(shì)圖

發(fā)文數(shù)據(jù)

2023-2024 年國(guó)家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計(jì)
  • 國(guó)家/地區(qū)數(shù)量
  • India169
  • CHINA MAINLAND68
  • Iran53
  • USA35
  • Canada22
  • Taiwan21
  • South Korea17
  • Turkey14
  • Egypt9
  • France9

本刊中國(guó)學(xué)者近年發(fā)表論文

  • 1、Simple and robust self-healing technique for millimetre-wave amplifiers

    Author: chibylxc

    Journal: IET Circuits Devices & Systems, 2016.

投稿常見問題

通訊方式:WILEY, 111 RIVER ST, HOBOKEN, USA, NJ, 07030-5774。

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