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Ieee Transactions On Reliability

Ieee Transactions On ReliabilitySCIE

國際簡稱:IEEE T RELIAB  參考譯名:可靠性交易

  • 中科院分區(qū)

    2區(qū)

  • CiteScore分區(qū)

    Q1

  • JCR分區(qū)

    Q1

基本信息:
ISSN:0018-9529
E-ISSN:1558-1721
是否OA:未開放
是否預警:否
TOP期刊:是
出版信息:
出版地區(qū):UNITED STATES
出版商:Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
出版語言:English
出版周期:Quarterly
出版年份:1963
研究方向:工程技術(shù)-工程:電子與電氣
評價信息:
影響因子:5
H-index:86
CiteScore指數(shù):12.2
SJR指數(shù):1.511
SNIP指數(shù):1.989
發(fā)文數(shù)據(jù):
Gold OA文章占比:16.74%
研究類文章占比:98.48%
年發(fā)文量:132
自引率:0.0847...
開源占比:0.0455
出版撤稿占比:0
出版國人文章占比:0.38
OA被引用占比:0
英文簡介 期刊介紹 CiteScore數(shù)據(jù) 中科院SCI分區(qū) JCR分區(qū) 發(fā)文數(shù)據(jù) 常見問題

英文簡介Ieee Transactions On Reliability期刊介紹

IEEE Transactions on Reliability is a refereed journal for the reliability and allied disciplines including, but not limited to, maintainability, physics of failure, life testing, prognostics, design and manufacture for reliability, reliability for systems of systems, network availability, mission success, warranty, safety, and various measures of effectiveness. Topics eligible for publication range from hardware to software, from materials to systems, from consumer and industrial devices to manufacturing plants, from individual items to networks, from techniques for making things better to ways of predicting and measuring behavior in the field. As an engineering subject that supports new and existing technologies, we constantly expand into new areas of the assurance sciences.

期刊簡介Ieee Transactions On Reliability期刊介紹

《Ieee Transactions On Reliability》自1963出版以來,是一本計算機科學優(yōu)秀雜志。致力于發(fā)表原創(chuàng)科學研究結(jié)果,并為計算機科學各個領(lǐng)域的原創(chuàng)研究提供一個展示平臺,以促進計算機科學領(lǐng)域的的進步。該刊鼓勵先進的、清晰的闡述,從廣泛的視角提供當前感興趣的研究主題的新見解,或?qū)彶槎嗄陙砟硞€重要領(lǐng)域的所有重要發(fā)展。該期刊特色在于及時報道計算機科學領(lǐng)域的最新進展和新發(fā)現(xiàn)新突破等。該刊近一年未被列入預警期刊名單,目前已被權(quán)威數(shù)據(jù)庫SCIE收錄,得到了廣泛的認可。

該期刊投稿重要關(guān)注點:

Cite Score數(shù)據(jù)(2024年最新版)Ieee Transactions On Reliability Cite Score數(shù)據(jù)

  • CiteScore:12.2
  • SJR:1.511
  • SNIP:1.989
學科類別 分區(qū) 排名 百分位
大類:Engineering 小類:Safety, Risk, Reliability and Quality Q1 7 / 207

96%

大類:Engineering 小類:Electrical and Electronic Engineering Q1 57 / 797

92%

CiteScore 是由Elsevier(愛思唯爾)推出的另一種評價期刊影響力的文獻計量指標。反映出一家期刊近期發(fā)表論文的年篇均引用次數(shù)。CiteScore以Scopus數(shù)據(jù)庫中收集的引文為基礎(chǔ),針對的是前四年發(fā)表的論文的引文。CiteScore的意義在于,它可以為學術(shù)界提供一種新的、更全面、更客觀地評價期刊影響力的方法,而不僅僅是通過影響因子(IF)這一單一指標來評價。

歷年Cite Score趨勢圖

中科院SCI分區(qū)Ieee Transactions On Reliability 中科院分區(qū)

中科院 2023年12月升級版 綜述期刊:否 Top期刊:否
大類學科 分區(qū) 小類學科 分區(qū)
計算機科學 2區(qū) COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE 計算機:硬件 COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING 計算機:軟件工程 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:電子與電氣 2區(qū) 2區(qū) 2區(qū)

中科院分區(qū)表 是以客觀數(shù)據(jù)為基礎(chǔ),運用科學計量學方法對國際、國內(nèi)學術(shù)期刊依據(jù)影響力進行等級劃分的期刊評價標準。它為我國科研、教育機構(gòu)的管理人員、科研工作者提供了一份評價國際學術(shù)期刊影響力的參考數(shù)據(jù),得到了全國各地高校、科研機構(gòu)的廣泛認可。

中科院分區(qū)表 將所有期刊按照一定指標劃分為1區(qū)、2區(qū)、3區(qū)、4區(qū)四個層次,類似于“優(yōu)、良、及格”等。最開始,這個分區(qū)只是為了方便圖書管理及圖書情報領(lǐng)域的研究和期刊評估。之后中科院分區(qū)逐步發(fā)展成為了一種評價學術(shù)期刊質(zhì)量的重要工具。

歷年中科院分區(qū)趨勢圖

JCR分區(qū)Ieee Transactions On Reliability JCR分區(qū)

2023-2024 年最新版
按JIF指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q1 8 / 59

87.3%

學科:COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING SCIE Q1 13 / 131

90.5%

學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 65 / 352

81.7%

按JCI指標學科分區(qū) 收錄子集 分區(qū) 排名 百分位
學科:COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE SCIE Q1 7 / 59

88.98%

學科:COMPUTER SCIENCE, SOFTWARE ENGINEERING SCIE Q1 14 / 131

89.69%

學科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC SCIE Q1 42 / 354

88.28%

JCR分區(qū)的優(yōu)勢在于它可以幫助讀者對學術(shù)文獻質(zhì)量進行評估。不同學科的文章引用量可能存在較大的差異,此時單獨依靠影響因子(IF)評價期刊的質(zhì)量可能是存在一定問題的。因此,JCR將期刊按照學科門類和影響因子分為不同的分區(qū),這樣讀者可以根據(jù)自己的研究領(lǐng)域和需求選擇合適的期刊。

歷年影響因子趨勢圖

發(fā)文數(shù)據(jù)

2023-2024 年國家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計
  • 國家/地區(qū)數(shù)量
  • CHINA MAINLAND168
  • USA71
  • England18
  • Canada17
  • France14
  • Brazil12
  • Italy12
  • Singapore12
  • Iran11
  • Taiwan11

本刊中國學者近年發(fā)表論文

  • 1、Novel Discriminant Locality Preserving Projection Integrated With Monte Carlo Sampling for Fault Diagnosis

    Author: He, Yan-Lin; Li, Kun; Liang, Li-Long; Xu, Yuan; Zhu, Qun-Xiong

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 166-176. DOI: 10.1109/TR.2021.3115108

  • 2、Fault Diagnosability of Networks With Fault-Free Block at Local Vertex Under MM* Model

    Author: Huang, Yanze; Lin, Limei; Lin, Yuhang; Xu, Li; Hsieh, Sun-Yuan

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 372-383. DOI: 10.1109/TR.2021.3129257

  • 3、Improved Locality Preserving Projections Based on Heat-Kernel and Cosine Weights for Fault Classification in Complex Industrial Processes

    Author: Zhang, Ning; Xu, Yuan; Zhu, Qun-Xiong; He, Yan-Lin

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 204-213. DOI: 10.1109/TR.2021.3139539

  • 4、Resilience Enhancement for Multistate Interdependent Infrastructure Networks: From a Preparedness Perspective

    Author: Wang, Kai; Xu, Zhaoping; Liu, Yu; Fang, Yiping

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 190-203. DOI: 10.1109/TR.2021.3132774

  • 5、SeTransformer: A Transformer-Based Code Semantic Parser for Code Comment Generation

    Author: Li, Zheng; Wu, Yonghao; Peng, Bin; Chen, Xiang; Sun, Zeyu; Liu, Yong; Paul, Doyle

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 258-273. DOI: 10.1109/TR.2022.3154773

  • 6、Reliability of a Distributed Data Storage System Considering the External Impacts

    Author: Kou, Gang; Yi, Kunxiang; Xiao, Hui; Peng, Rui

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 3-14. DOI: 10.1109/TR.2022.3161638

  • 7、Reliability Modeling and Assessment for a Cyber-Physical System With a Complex Boundary Behavior

    Author: Gong, Hongfang; Li, Renfa; An, Jiyao; Xie, Guoqi

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 224-239. DOI: 10.1109/TR.2022.3160460

  • 8、An Intelligent Resource Management Solution for Hospital Information System Based on Cloud Computing Platform

    Author: Gong, Siqian; Zhu, Xiaomin; Zhang, Runtong; Zhao, Hongmei; Guo, Chao

    Journal: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY. 2023; Vol. 72, Issue 1, pp. 329-342. DOI: 10.1109/TR.2022.3161359

投稿常見問題

通訊方式:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。

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